近日，我院新生兒科在功能科的密切協(xié)作下，成功為一名存在腦損傷風險的早產兒實施了首例新生兒振幅整合腦電圖（aEEG）監(jiān)測。該項新技術的成功開展，標志著我院在新生兒神經系統(tǒng)疾病精準診斷領域取得重要突破，為危重新生兒，特別是早產兒、缺氧缺血性腦病患兒、驚厥患兒等的腦功能評估提供了強有力的技術支持，提升了我院新生兒神經系統(tǒng)疾病的診療水平。

      此次接受首例監(jiān)測的患兒是一名胎齡較小的早產兒，新生兒科團隊經過嚴謹評估，認為有必要進行腦電圖監(jiān)測以明確診斷。在醫(yī)護團隊的專業(yè)技術支持和高效配合下，監(jiān)測過程順利。成功獲取了高質量的腦電信號和同步視頻資料。功能科團隊憑借豐富的經驗對采集到的復雜腦電數(shù)據(jù)進行專業(yè)、細致的判讀和分析，識別細微異常，為臨床提供明確、可靠的診斷報告。

      新生兒期是大腦發(fā)育的關鍵時期，也是神經系統(tǒng)疾?。ㄈ缧律鷥后@厥、缺氧缺血性腦病、顱內出血、中樞感染等）的高發(fā)期。這些疾病若不能及時發(fā)現(xiàn)和干預，可能對患兒未來的神經發(fā)育造成嚴重影響。傳統(tǒng)的臨床觀察和常規(guī)檢查手段，有時難以捕捉到細微或隱匿性的腦電活動異常，尤其是新生兒驚厥表現(xiàn)常不典型，極易漏診。

      對于尚未“能說會道”的小嬰兒醫(yī)生無法問診，新生兒振幅整合腦電圖作為一種特殊的“嬰語”，可實時觀察新生兒腦功能狀態(tài)為醫(yī)生診斷提供了重要參考對于有腦損傷表現(xiàn)或存在腦損傷高危因素的寶寶尤其重要。

      aEEG檢測的適用范圍：有腦損傷表現(xiàn)或存在腦損傷高危因素的新生兒。包括存在圍產期缺氧窒息史、新生兒頑固性低血糖、先天性遺傳代謝病、顱內出血、中樞神經系統(tǒng)感染、嚴重高膽紅素血癥等問題的新生兒，用于發(fā)現(xiàn)腦損傷、評價腦損傷的程度和預后；新生兒(尤其是早產兒)腦發(fā)育成熟度的評估；新生兒驚厥和可疑驚厥發(fā)作的檢測；腦損傷治療效果的評估，如亞低溫治療、抗驚厥藥物止驚等治療的效果評估。

      有腦損傷高危因素的新生兒，生后6小時內盡早開始首次檢查；無高危因素的，但臨床出現(xiàn)腦病癥狀的，應盡快檢測。特殊情況,亞低溫治療中的重度缺氧缺血性腦病的患兒監(jiān)測至生后72-96小時。

      新生兒振幅整合腦電圖監(jiān)測安全。檢查僅在寶寶頭皮表面連接數(shù)根腦電圖數(shù)據(jù)線即可進行，無創(chuàng)、無輻射，寶爸寶媽們可以完全放心。

      新生兒科主任余艾霞表示，“新生兒振幅整合腦電圖監(jiān)測技術的成功開展，是科室提升疑難危重新生兒救治能力的重要里程碑。它使我們能夠更早期、更精準地識別新生兒腦損傷和驚厥性疾病，為個體化治療方案的制定和預后評估提供了科學依據(jù)。這離不開功能科同仁們精湛的技術和高效的合作，是院內多學科協(xié)作（MDT）模式的又一成功實踐?！?/span>

      首例新生兒振幅整合腦電圖監(jiān)測的成功實施，不僅為這名患兒帶來了精準的診斷希望，更惠及未來所有需要此項檢查的新生兒。它意味我院新生兒神經重癥監(jiān)護能力邁上新臺階；新生兒驚厥等疾病的診斷將更加及時、準確?；純簩@得更科學、更個體化的治療，有望改善遠期神經發(fā)育結局。